5.1.1Оптические источники для тестирования

Выбирая оптический источник для тестирования пассивных компонентов, учитывают несколько важных моментов. Чтобы провести надежное измерение компонентовс высокими вносимыми потерями, источник должен быть достаточно мощным. Значительный запас мощности потребуется и при тестировании на предельно высоких скоростях передачи устройств, обладающих зависимостью параметров от длины волны, таккак при этом потребуется сравнивать несколько сигналов, ослабленных по меньшеймере на 40 дБ.

Для измерений требуются широкополосные источники с достаточно равномернымспектром в рабочем диапазоне, чтобы свести к минимуму коррекцию результатов. Имеющиеся некогерентные широкополосные источники излучения, в том числе с излучением, близким к излучению абсолютно черного тела (лампы накаливания высокойинтенсивности, светоизлучающие диоды LED и источники усиленного спонтанногоизлучения ASE) перекрывают спектральный диапазон, в котором работают компоненты WDM. Так как излучение таких источников не поляризовано или слабо поляризовано, поляризационная зависимость в подобных измерениях мала. Источники излучения ASE дают свет большой интенсивности в широкой области спектра. Они лучше всего подходят для того, чтобы обеспечить равномерное распределениеспектральной мощности в заданном диапазоне длин волн. В качестве узкополосных источников в большинстве случаев успешно используютсялазеры с внешним резонатором ECL (ExternalCavityLaser). Длина волны излучениятакого лазера перестраивается механическим способом с высокой точностью (несколько пм) в спектральном диапазоне, превышающем 120 нм. Лазеры ECL имеют высокуюстепень поляризации излучения и практически монохроматичны, что обычно необходимо при измерении спектральных характеристик. Спонтанное излучение контролируют, используя подходящие фильтры. Шумовая характеристика лазера ECL вполнеподходит для измерений низких уровней вносимых потерь. В настоящее время появились новые разработки перестраиваемых лазеров, в том числе волоконный лазер, объединяющие преимущества технологий EDFA и узкополосной перестраиваемойфильтрации. Они имеют очень низкий уровень шумов для основной линии излучения,сравнимый с уровнем шумов ECL (менее -65 дБ).

Спектральные области, в которых используются указанные типы источников излучения, показаны на рисунке 5.2.

5..2.png

Рисунок 5.2. Спектральная область излучения и динамический диапазон источников различных типов